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Si4313-B1
1.1. Test Condition Definitions
1.1.1. Production Test Conditions
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TA = +25 °C
VDD = +3.3 VDC
Sensitivity measured at 919 MHz.
External reference signal (XOUT) = 1.0 VPP at 30 MHz, centered around 0.8 VDC.
Production test schematic (unless noted otherwise).
All RF input levels refer to the pins of the Si4313 (not the RF module).
1.1.2. Qualification Test Conditions
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TA = –40 to +85 °C.
? VDD = +1.8 to +3.6 VDC.
? Based upon standard reference design test cards.
? All RF input levels refer to the pins of the Si4313 (not the RF module).
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